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警報音が響き、白いダイアログがポップアップする。
「何だ―」
「MBMから温度警報。CPUが動作保証温度を突破。信じられない…強制冷却しているのに」
「部屋ごと冷やす。エアコン始動」
「待て、少尉。センサーの誤作動かもしれない。MBMの故障かも…」
「なぜ分かる」
「室温は18度だぞ、誤報だ、上限温度の73度を超える訳がない」
「ではspeedfanでも確認しろ」
「やっている…数値は同じだが、温度センサー側のトラブルかもしれない」
「Waveletを2枚かまして24時間連続エンコしているのだ…ありうる」
「やめろ少尉！ 気でも狂ったか？ こんな肌寒い部屋で冷房を最強にしたら、凍えてしまう」
「プレスコットが…暑いと言っている」
Intel Pentium 4 "Prescott" 3.4E GHz
任意のプロセスを、一定の時間割合でサスペンド／レジュームさせることで、 CPU負荷率を強制的に下げる。
「SSDは、アクセスが速く、回転部分がないので壊れにくい。従来のハードディスクより優れた新技術…」という一般的イメージを持たれている。
一方、SSDには、特有の弱点があることも知られている。そのうち「通電していないとデータが壊れる確率が上がる」という事実は、用途によっては重大な問題点だろう。
IBMサポートの資料「Flash Data Retention」によると:
「一般的なイメージとは裏腹に、フラッシュメモリー上の情報は、恒久的に保存されるものではありません。これは NAND Flash 技術の特性であり、データを長期間保存するためには、電源を入れて使わなければなりません。FlashSystem 900 は40℃以下の環境において、最大90日間まで電源オフの状態にして大丈夫です。電源オフの状態が7日間を超える場合、システムは自動的にリフレッシュ動作を行います」
言い換えると、そのような自動リフレッシュがない一般の環境では、電源オフが1週間を超えると、データ損失・破壊のリスクの増大が無視できないレベルになる。もちろん確率は低いが、イメージ的に「日常的に使っていれば、一定期間ごとに100万分の1の確率で起きる悪いイベントが、1万分の1の確率で起きるようになる（100倍のリスク）」みたいな感じかも…。この特性から、当然ながら、SSDは「週ごと、月ごとの定期バックアップ先のメディア」としては不向き。そのような用途では、古い技術であるハードディスクの方がはるかに信頼性が高い。「SSDの方が値段が高いから信頼性が高い」と誤解してはならない（衝撃に対する信頼性は高いかもしれないが…）。
確率上の話として、SSDの場合、毎日じゃんじゃん使う方が、保存されているデータは「論理的」に壊れにくい。もちろんデバイスの「物理的」な消耗は早くなるが、形ある物がやがて壊れるのは仕方のないこと。消耗品と割り切って、必要なら定期的にバックアップやクローンをするしかないだろう。「余計な消耗を防ぐため、なるべく使わないようにしよう」と考え、長期電源オフにすると、むしろ壊れるリスクが増えると思われる。
参考リンク: Will SSD lose data if left unpowered for extended period? : DataHoarder (reddit)
上記「SSDは使ってないと壊れやすい」は、これで痛い目に遭った…という失敗談。
電源がオフだと、物理的にも無防備なのだろうか。何かの天罰で宇宙線でも当たったのかもしれない。
壊れたものは仕方ない。とりあえずセクター・バイ・セクターのクローンを作って、不具合のあるSSDと入れ替えておいた。
「【注意】SSDは使ってないと壊れやすい」への追加情報。
先端技術は急速に変化しているし、専門的なことは分からないので、間違ってるかも。あくまで話半分・参考程度に…
結論から言うと、大容量SSDは、電源オフの状態で長期間放置しない方が安全。技術とファームウェアの進化によって、この問題は次第に緩和されると思われる。
Yu Cai（米国カーネギーメロン大学）たちの2015年の論文、Data Retention in MLC NAND Flash Memory: Characterization, Optimization and Recovery と関連するプレゼンによると…
1) 保存されているデータがだんだん読み取りにくくなるのは、時間とともに、記録されている電気的データが少しずつ「抜けてしまう」から。
（画像の出典: 上記プレゼン資料）
2) 古いファイル、例えば1週間前に書き込まれたセルがあるとして、通常（？）の読み取り電圧（SSDの連続使用に最適化）でデータを取得しようとすると、エラー発生率が高くなる。デバイス自体が新しい場合、エラーが起きてもおおむね訂正可能だが、何度も書き込みを繰り返している場合（P/E Cyclesが大）、訂正可能な限界を超えてしまう。
（画像の出典: 上記論文）
縦軸がエラー発生率、横軸がデバイスの消耗度（P/E Cycles）。1番上のカーブが、連続使用に最適化された電圧。Stage-0（デバイスが消耗していない）では、エラーが起きても訂正可能。Stage-2（デバイス自体が消耗している）では、どっちにしてもエラーを救えない。問題は Stage-1（新品ではないが、普通に使える期間）。保存されているデータが1週間前に書かれて放置されているというだけで、エラー発生率が訂正可能なリミットを超えてしまう。
電源がオンになっていれば、良くできたファームウェアは古いデータを自動的に保存し直すので（リフレッシュ動作）、このような「信号が弱くなっているセル」の問題が起こりにくい。リフレッシュ動作（データを再保存）の副作用としてデバイスの消耗は進むが、デバイスの耐久性が十分に高ければ、メリットの方が大きい。
3) この論文によると、リフレッシュされていない古いデータを読み取るときは、読み取り電圧を調整するとエラーが起きにくい（1番下のカーブなど）。原理的には「読み取り電圧をセルごとに繊細に調整できれば、長期間電源オフのSSDでも、比較的エラーが起きにくいようにできる」。
…上記論文とは別の各種情報によると、次のようなことも指摘されている。
